標準地址下載：
GBT 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫.pdf
可關(guān)注韋斯的公眾號，了解更多的相關(guān)內(nèi)容！
《GB/T 2423.2-2008》是中國國家標準中關(guān)于電工電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境下進行環(huán)境試驗的指導文件。該標準等同采用國際標準IEC 60068-2-2:2007，替代了2001年版標準，主要用于評估產(chǎn)品在高溫條件下的適應能力，包括使用、運輸和貯存過程中的性能表現(xiàn)。
該標準將高溫試驗分為三種類型：
試驗Bb：非散熱試驗樣品，溫度漸變；
試驗Bd：散熱試驗樣品，溫度漸變，試驗過程中不通電；
試驗Be：散熱試驗樣品，溫度漸變，整個試驗過程中通電。
本標準適用于各類電工電子產(chǎn)品，包括元器件、設備及其他產(chǎn)品，用于檢驗其在高溫環(huán)境下的耐受能力。不適用于評價產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的運行能力，該類試驗應參考《GB/T 2423.22》（溫度變化試驗）。
高溫試驗箱：需具備溫度控制功能，能實現(xiàn)漸變升溫，速率不超過1 K/min（5分鐘內(nèi)平均值）；
試驗箱內(nèi)溫度應控制在設定值的±2 K范圍內(nèi)（特殊情況可放寬）；
絕對濕度不超過20 g/m3，相對濕度不超過50%。
預處理：按相關(guān)規(guī)范對樣品進行預處理；
初始檢測：對樣品進行外觀和功能檢查；
安裝：樣品應模擬實際使用狀態(tài)安裝；
條件試驗：
將樣品放入試驗箱，逐步升溫至設定溫度；
保持溫度至規(guī)定時間（如2h、16h、72h等）；
過程中可進行中間檢測（樣品不移出箱體）；
恢復：試驗結(jié)束后逐步降溫至室溫，恢復時間至少1小時；
最后檢測：對樣品進行外觀和性能檢測。
試驗結(jié)束后，樣品應在試驗箱內(nèi)或標準大氣條件下進行恢復：
恢復時間至少1小時，或直至溫度穩(wěn)定；
必要時可在恢復期間通電或加載進行測量；
若標準條件不適用，可按相關(guān)規(guī)范設定其他恢復條件。
試驗箱應足夠大，避免樣品之間或與箱壁之間的熱干擾；
箱內(nèi)氣流應均勻，避免局部過熱或過冷；
溫度傳感器應遠離樣品，避免受其熱影響；
試驗箱應定期校準，確保溫度控制的準確性。
散熱與非散熱樣品的區(qū)分：若樣品表面最熱點溫度超過環(huán)境溫度5 K以上，視為散熱樣品；
包裝問題：通常應去掉包裝進行試驗，除非規(guī)范另有規(guī)定；
冷卻系統(tǒng)：若樣品帶有人工冷卻裝置，需按規(guī)定提供冷卻介質(zhì)；
試驗記錄：應詳細記錄氣流速度、溫度曲線、樣品狀態(tài)等數(shù)據(jù)，附于試驗報告中。
方案咨詢/業(yè)務洽談，請聯(lián)系：
電話/微信：13335830295
您的位置：